Фотографисан комбиновани тест, Шарчевић сумња да је реч о "смишљеној саботажи"

Министарство просвете, науке и технолошког развоја добило је информацију да је у основној школи у Новом Пазару неко успео данас да фотографише комбиновани тест, а истражни органи испитаће и професоре и ученике за које се сумња да су у томе учествовали.

"Обавестили смо полицију, која већ ради проверу. Према сазнањима која имамо, фотографисани тест, односно решења била су доступна неколицини ученика. Наиме, остали ученици, су већ били распоређени по учионицама и без мобилних телефона", рекао је министар Младен Шарчевић, а саопштило је Министарство.

Како се додаје, процедура налаже да се испит полаже у учионици са највише девет ученика и два дежурна наставника.

"Осим тога, испред учионице у којој се полаже испит ученици одлажу личне ствари које се не смеју користити на испиту, међу којима је и мобилни телефон", рекао је министар.

Он је изразио сумњу да је у питању "смишљена саботажа" и оценио да је у овоме вероватно учествовало више особа.

"Не желим да прејудицирам, али ово није било могуће извести без нечије помоћи. И наставници и ученици ће имати прилику да све потанко објасне полицији", казао је министар.

Мали матуранти су данас полагали комбиновани тест, односно питања из пет предмета.